Preview

Российские нанотехнологии

Расширенный поиск

УСТРОЙСТВО ВИЗУАЛИЗАЦИИ ИНФРАКРАСНОГО И МИЛЛИМЕТРОВОГО ИЗЛУЧЕНИЙ

Полный текст:

Аннотация

Предложена конструкция устройства визуализации и измерения плотности мощности по сечению пучка источников инфракрасного и миллиметрового излучений на основе пленочных металлодиэлектрических структур. Впервые проведены эксперименты по регистрации излучения магнетронов с рабочей длиной волны 2 и 3 мм. Определены эксплуатационные параметры устройства. Приведены фотографии экрана устройства, показывающие динамику изменения изотермических поверхностей сечения пучка излучения. Предложены области применения устройства.

Об авторах

А. С. Олейник
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.
Россия
410054, Саратов, ул. Политехническая, 77


М. А. Медведев
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю.А.
Россия
410054, Саратов, ул. Политехническая, 77


В. П. Еремин
ПАО «Тантал»
Россия
410040, Саратов, просп. 50 лет Октября, 110а


В. П. Мещанов
ООО НПП «НИКА-СВЧ»
Россия
410012, Саратов, ул. Московская, 66/68


Н. А. Коплевацкий
ПАО «Тантал»
Россия
410040, Саратов, просп. 50 лет Октября, 110а


Список литературы

1. Адамчик А., Стругальский З. Жидкие кристаллы / Пер. с польск; под ред. И.Г. Чистякова. М.: Сов. Радио, 1979. 160 с.

2. Электроника: Энциклопедический словарь / Гл. ред. В.Г. Колесников. М.: Советская энциклопедия, 1991. 688 с.

3. Олейник А.С. Методы контроля инфракрасного излучения: монография. Саратов: Сарат. гос. техн. ун-т, 2014. 164 с.

4. Демьяненко М.А., Есаев Д.Г., Овсюк В.Н., Фомин Б.И., Марчишин И.В., Алиев В.Ш., Князев Б.А., Герасимов В.В., Кулипанов Г.Н., Винокуров Н.А., Литвинцев В.И. Разработка и применение неохлаждаемых матричных микроболометров для терагерцового диапазона // Вестник НГУ. Серия: Физика. 2010. Т. 5. № 4. С. 73–78.

5. Олейник А.С. Способ изготовления пленочного материала на основе смеси фаз VO x . Пат. РФ №2623573. Опубл. 27.06.2017. Бюл. № 18.

6. Олейник А.С., Маслов Д.М. Метод измерения зависимости сопротивления нанопленок оксидов ванадия от температуры // Измерительная техника. 2013. № 1. С. 58–59.

7. Панфилов Ю. Нанесение тонких пленок в вакууме // Технология электронной промышленности. 2007. № 3. С. 76–80.

8. Шибаев В.П. Жидкие кристаллы: холестерики // Химия и жизнь — XXI век. 2008. № 7. С. 26–30.

9. Принципы измерения мощности. Начальное руководство по измерению мощности на высоких и сверхвысоких частотах [Электронный ресурс] // «Вилком». Режим доступа: https://radio.vilcom.ru/upload-files/news/04.06.2013/Nachalnoe_rukovodstvo_po_izmereniu_VCH_i_SVCH_mownosti.pdf. (дата обращения: 04.02.2018).

10. Олейник А.С., Федоров А.В. Регистрация лазерного излучения пленочными реверсивными средами на основе диоксида ванадия // Российские нанотехнологии. 2011. Т. 6. № 5–6. С. 120–129.


Просмотров: 46


ISSN 1992-7223 (Print)