Российские нанотехнологии. 2018; 13: 66-74
УСТРОЙСТВО ВИЗУАЛИЗАЦИИ ИНФРАКРАСНОГО И МИЛЛИМЕТРОВОГО ИЗЛУЧЕНИЙ
Аннотация
Предложена конструкция устройства визуализации и измерения плотности мощности по сечению пучка источников инфракрасного и миллиметрового излучений на основе пленочных металлодиэлектрических структур. Впервые проведены эксперименты по регистрации излучения магнетронов с рабочей длиной волны 2 и 3 мм. Определены эксплуатационные параметры устройства. Приведены фотографии экрана устройства, показывающие динамику изменения изотермических поверхностей сечения пучка излучения. Предложены области применения устройства.
Список литературы
1. Адамчик А., Стругальский З. Жидкие кристаллы / Пер. с польск; под ред. И.Г. Чистякова. М.: Сов. Радио, 1979. 160 с.
2. Электроника: Энциклопедический словарь / Гл. ред. В.Г. Колесников. М.: Советская энциклопедия, 1991. 688 с.
3. Олейник А.С. Методы контроля инфракрасного излучения: монография. Саратов: Сарат. гос. техн. ун-т, 2014. 164 с.
4. Демьяненко М.А., Есаев Д.Г., Овсюк В.Н., Фомин Б.И., Марчишин И.В., Алиев В.Ш., Князев Б.А., Герасимов В.В., Кулипанов Г.Н., Винокуров Н.А., Литвинцев В.И. Разработка и применение неохлаждаемых матричных микроболометров для терагерцового диапазона // Вестник НГУ. Серия: Физика. 2010. Т. 5. № 4. С. 73–78.
5. Олейник А.С. Способ изготовления пленочного материала на основе смеси фаз VO x . Пат. РФ №2623573. Опубл. 27.06.2017. Бюл. № 18.
6. Олейник А.С., Маслов Д.М. Метод измерения зависимости сопротивления нанопленок оксидов ванадия от температуры // Измерительная техника. 2013. № 1. С. 58–59.
7. Панфилов Ю. Нанесение тонких пленок в вакууме // Технология электронной промышленности. 2007. № 3. С. 76–80.
8. Шибаев В.П. Жидкие кристаллы: холестерики // Химия и жизнь — XXI век. 2008. № 7. С. 26–30.
9. Принципы измерения мощности. Начальное руководство по измерению мощности на высоких и сверхвысоких частотах [Электронный ресурс] // «Вилком». Режим доступа: https://radio.vilcom.ru/upload-files/news/04.06.2013/Nachalnoe_rukovodstvo_po_izmereniu_VCH_i_SVCH_mownosti.pdf. (дата обращения: 04.02.2018).
10. Олейник А.С., Федоров А.В. Регистрация лазерного излучения пленочными реверсивными средами на основе диоксида ванадия // Российские нанотехнологии. 2011. Т. 6. № 5–6. С. 120–129.
Title in english. 2018; 13: 66-74
УСТРОЙСТВО ВИЗУАЛИЗАЦИИ ИНФРАКРАСНОГО И МИЛЛИМЕТРОВОГО ИЗЛУЧЕНИЙ
Abstract
Предложена конструкция устройства визуализации и измерения плотности мощности по сечению пучка источников инфракрасного и миллиметрового излучений на основе пленочных металлодиэлектрических структур. Впервые проведены эксперименты по регистрации излучения магнетронов с рабочей длиной волны 2 и 3 мм. Определены эксплуатационные параметры устройства. Приведены фотографии экрана устройства, показывающие динамику изменения изотермических поверхностей сечения пучка излучения. Предложены области применения устройства.
References
1. Adamchik A., Strugal'skii Z. Zhidkie kristally / Per. s pol'sk; pod red. I.G. Chistyakova. M.: Sov. Radio, 1979. 160 s.
2. Elektronika: Entsiklopedicheskii slovar' / Gl. red. V.G. Kolesnikov. M.: Sovetskaya entsiklopediya, 1991. 688 s.
3. Oleinik A.S. Metody kontrolya infrakrasnogo izlucheniya: monografiya. Saratov: Sarat. gos. tekhn. un-t, 2014. 164 s.
4. Dem'yanenko M.A., Esaev D.G., Ovsyuk V.N., Fomin B.I., Marchishin I.V., Aliev V.Sh., Knyazev B.A., Gerasimov V.V., Kulipanov G.N., Vinokurov N.A., Litvintsev V.I. Razrabotka i primenenie neokhlazhdaemykh matrichnykh mikrobolometrov dlya teragertsovogo diapazona // Vestnik NGU. Seriya: Fizika. 2010. T. 5. № 4. S. 73–78.
5. Oleinik A.S. Sposob izgotovleniya plenochnogo materiala na osnove smesi faz VO x . Pat. RF №2623573. Opubl. 27.06.2017. Byul. № 18.
6. Oleinik A.S., Maslov D.M. Metod izmereniya zavisimosti soprotivleniya nanoplenok oksidov vanadiya ot temperatury // Izmeritel'naya tekhnika. 2013. № 1. S. 58–59.
7. Panfilov Yu. Nanesenie tonkikh plenok v vakuume // Tekhnologiya elektronnoi promyshlennosti. 2007. № 3. S. 76–80.
8. Shibaev V.P. Zhidkie kristally: kholesteriki // Khimiya i zhizn' — XXI vek. 2008. № 7. S. 26–30.
9. Printsipy izmereniya moshchnosti. Nachal'noe rukovodstvo po izmereniyu moshchnosti na vysokikh i sverkhvysokikh chastotakh [Elektronnyi resurs] // «Vilkom». Rezhim dostupa: https://radio.vilcom.ru/upload-files/news/04.06.2013/Nachalnoe_rukovodstvo_po_izmereniu_VCH_i_SVCH_mownosti.pdf. (data obrashcheniya: 04.02.2018).
10. Oleinik A.S., Fedorov A.V. Registratsiya lazernogo izlucheniya plenochnymi reversivnymi sredami na osnove dioksida vanadiya // Rossiiskie nanotekhnologii. 2011. T. 6. № 5–6. S. 120–129.
